基于SIFT算法的疵病图像配准
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TP391;TN06

基金项目:


Defect image registration based on SIFT algorithm
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    光学技术的发展对光学元件提出了更高的要求,检测的精度和准确性是其重要的部分,而疵病图像的配准是一个很重要的环节,因此对疵病图像的配准进行研究很有必要。针对疵病图像配准算法进行了阐述,并对基于特征点匹配的SIFT算法的原理及过程进行了介绍,用MATLAB软件进行编程,搭建实验平台获取疵病图像,并采用尺度不变特征变换(SIFT)算法对所获取的疵病图像进行配准、拼接,得到了完整的疵病图像。实验结果表明,该算法能有效地对疵病图像进行配准,为后续的疵病信息提取打下良好的基础。

    Abstract:

    With the development of optical technology, higher requirements have been put forward for optical components. The accuracy and veracity of detection is an important part of optical components. The registration of defective images is a very important link. Therefore, it is necessary to study the registration of defective images. Aiming at the defect image registration algorithm, the principle and process of SIFT algorithm based on feature point matching are introduced. The experimental platform is programmed by MATLAB software to obtain the defect image. The defect image is registered and mosaic by SIFT algorithm, and the complete defect image is obtained. The experimental results show that the algorithm can effectively register the defect image and lay a good foundation for the subsequent defect information extraction.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

刘璐,刘缠牢.基于SIFT算法的疵病图像配准[J].电子测量技术,2019,42(6):94-98

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2021-08-03
  • 出版日期:
文章二维码
×
《电子测量技术》
财务封账不开票通知